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雙電測數字式四探針測試儀／電阻率測試儀／方阻儀
產品簡介
product
產品分類雙電測數字式四探針測試儀／電阻率測試儀／方阻儀 型號：DP-2263
概述
DP-2263型雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，對數據行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
三、基本參數
3.1 測量范圍
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
電 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式決定)
直 徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）
四探針電阻率測試儀／四探針電阻率/方阻測定儀 型號：DP-2253
概述
DP-2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
3.1 測量范圍
電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）
凈 重：≤2.5kg
數字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號：DP-2258C
概述
DP-2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量級）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度： 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常規量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ ---
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
4.作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）
凈 重：≤1.5～2.0kg
數字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號：DP-2258A
概述
DP-2258A型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率（可向下拓展1～3個數量級，括號內為向下拓展3個數量級）
電 阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104 Ω
（1.0×10-6 ～ 200.0×102 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
電 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
方塊電阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□ 分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度： 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
常規量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
zui大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB
4) 作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm
凈 重：≤1.5～2.0kg
微量移液器/移液器/微量移液槍 型號：DP27026
產品參數：1μL～10μL/20μL～200μL/100μL～1000μL/500μL～5000μL
注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的
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